银河线路检测中心4项专利拟转让，现将相关信息予以公示。

 [1]专利名称：基于偏振光相位调制的结构光生成装置与方法

专利号：ZL201610831268.9

专利简介：本发明公开了一种基于偏振光相位调制的结构光生成装置与方法。激光器发出线偏振光的光束入射到半波片上，经过半波片偏振方向旋转角度，再到电光相位调制器中分解成两个偏振分量，被电光相位调制器调制产生相位差，接着经扩束镜扩束后入射到左、右偏振分光镜拼接后形成的端面中间让调制后的光束透过，然后两路光束入射到偏振片上仅透过沿其光轴方向的分量形成一路光束，最终聚焦在聚焦镜的焦点处发生干涉。本发明能应用到荧光显微成像上，能获得更好的荧光信号信噪比和更强的组织内部大深度成像能力。

[2]专利名称：STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法

专利号：ZL201610813505.9

专利简介：发明公开了一种STED超分辨显微技术中损耗光斑的高质量重建方法。不加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦，在焦平面得理想损耗光斑；加载样品光束经过均一相位空间光调制后被物镜聚焦，在位于样品内部的焦平面得畸变损耗光斑；将空间光调制器的像素点分区，各分区加载不同的相位值，得到一系列需校正损耗光斑，接着与理想损耗光斑进行互相关计算和处理，得到各分区的相位加载最佳值；各分区经过多次迭代处理后完成样品内部损耗光斑的高质量重建。本发明能重建有损耗空心光斑，能在大深度下得到完整而良好的损耗光斑，扩展了受激辐射淬灭显微技术的应用范围，提高了系统成像深度，提升了系统分辨率与信噪比并优化成像质量。

[3]专利名称：一种光学散射模拟模型的构建方法及其应用

专利号：ZL201710018929.0

专利简介：本发明公开了一种光学散射模拟模型的构建方法及其应用。将所需构建模型的散射介质置于显微镜下进行三维立体扫描成像，获得散射介质的三维结构图像；将每张二维结构图像转为灰度图像矩阵后进行幅值归一化处理，获得归一化图像矩阵；设定相位差权重，将相位差权重乘到每个归一化图像矩阵得到光学相位差分布矩阵，由所有光学相位差分布矩阵组成光学散射模拟模型。本发明简单、便捷，能够在制作实验样本的同时获得其对应的数值模拟模型，更接近实验中光束与生物组织的相互作用，更好地模拟提升实验效率。

[4]专利名称：一种用于相位采集与同步精准调制的装置

专利号：ZL201621046668.0

专利简介：本实用新型公开了一种用于相位采集与同步精准调制的装置。激光器发出激光经相位型分束镜发生透射和折射，透射光作为物光，依次经半波片、散射介质后，再经第一反射镜反射到分束镜一侧；反射光作为参考光，经第二反射镜反射后，再经位相型电光调制器调制后入射到分束镜另一侧，两束光在分束镜中反射和投射，参考光和物光相重叠分别入射CCD相机和空间光调制器被接收。本实用新型能在测量空间光调制器面板光场相位分布的同时，实现高精度、高分辨率的相位调制，在医学成像、信息安全等诸多领域有着巨大的应用潜力。

转化方式：转让

定价方式：挂牌交易

转化价格：60万元

公示期自2020年4月20日至 2020年5月4日。如有异议，请在公示期内向科学技术研究院或银河线路检测中心提交异议书及有关证据。

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银河线路检测中心

2020年4月20日